MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測系統(tǒng)功能：

檢測晶圓尺寸：4’

測量uLED類型：RGB

明場/PL檢測類型：明場缺陷分析科普活動、電極缺陷分析科技實力、PL缺陷分析

EL電學(xué)檢測項(xiàng)目：V-I曲線落實落細、IR1/IR2/IR3前來體驗、VF1/VF2/VF3

EL色度學(xué)檢測項(xiàng)目：Cx、Cy實現了超越、WLD發揮重要帶動作用、EQE

PL/AOI檢測速度：10min/pcs（4’）

MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測系統(tǒng)EL檢測速度：1.5s/die to die

大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時(shí)間分辨光譜技術(shù)，致力于推動(dòng)光譜技術(shù)在科研和工業(yè)領(lǐng)域的深入應(yīng)用應用。在科研儀器領(lǐng)域解決方案，創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш?duì)，是目前國內(nèi)極少具備瞬態(tài)光譜獨(dú)立研發(fā)-生產(chǎn)-應(yīng)用完整能力體系的團(tuán)隊(duì)成就。創(chuàng)銳光譜以時(shí)間分辨光譜核心技術(shù)初步建立，超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品，打破進(jìn)口壟斷格局相對開放。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)重要方式、共聚焦熒光成像系統(tǒng)、DPSS納秒激光器及高速探測器相貫通。在工業(yè)半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域增產，公司以光譜技術(shù)創(chuàng)新為核心立足點(diǎn)，已迅速完成碳化硅襯底系統、外延的方法、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領(lǐng)域布局方法。