碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)特點：

SiC襯底位錯缺陷檢測專用設(shè)備

光學(xué)非接觸無損檢測

BPD重要部署、TSD、TED分類識別

SiC襯底：4'/6'/8';導(dǎo)電溝通協調、半絕緣

碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)最高檢測速度：＜17min/片（6"）

大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時間分辨光譜技術(shù)拓展，致力于推動光譜技術(shù)在科研和工業(yè)領(lǐng)域的深入應(yīng)用。在科研儀器領(lǐng)域活動，創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш?，是目前國?nèi)極少具備瞬態(tài)光譜獨立研發(fā)-生產(chǎn)-應(yīng)用完整能力體系的團隊。創(chuàng)銳光譜以時間分辨光譜核心技術(shù)還不大，超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品好宣講，打破進(jìn)口壟斷格局。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)保障性、共聚焦熒光成像系統(tǒng)不斷進步、DPSS納秒激光器及高速探測器。在工業(yè)半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域領先水平，公司以光譜技術(shù)創(chuàng)新為核心立足點認為，已迅速完成碳化硅襯底、外延推動並實現、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領(lǐng)域布局。