超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)UPSI100主要利用調(diào)節(jié)pump和probe光之間的光程差來進(jìn)行測試臺上與臺下。首先激光打在樣品上，樣品表面會產(chǎn)生一定程度的損毀技術創新，由于本過程很快（ps量級）因此單使用相機(jī)連續(xù)采集不能夠完整的觀察到整個(gè)損毀的過程效高性。在本儀器中，當(dāng)每一次激光打在樣品后技術發展，便可通過延遲線調(diào)節(jié)兩個(gè)光脈沖之間的延遲重要的作用，從而分別采集激光打在樣品后不同時(shí)刻樣品損毀情況。

超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)UPSI100主要技術(shù)指標(biāo)：

本功能主要利用相機(jī)的門采集功能以及延遲來采集不同時(shí)刻重要的意義，樣品等離子體濺射過程。整個(gè)測試流程是激光聚焦打在樣品上規模最大，樣品會產(chǎn)生等離子體此時(shí)相機(jī)的曝光時(shí)間固定關註度，曝光時(shí)間就相當(dāng)于一個(gè)“門"，再通過時(shí)序來調(diào)節(jié)“門"相對于激光打在樣品上的時(shí)間為0來進(jìn)行延遲更為一致，從而分別拍出不同時(shí)間等離子體的濺射過程各方面。